Effect of cascade remnants on freely migrating defects in Cu-1%Au alloys

Cu-1%Auにおける自由拡散欠陥に対するカスケード損傷の効果

岩瀬 彰宏; L.E.Rehn*; P.M.Baldo*; L.Funk*

Iwase, Akihiro; L.E.Rehn*; P.M.Baldo*; L.Funk*

自由拡散欠陥(FMD)の生成率におけるカスケード損傷の効果を、1.5MeVのHeと400-800keVの重イオンの同時照射下でのRBS測定により調べた。試料はCu-1%Auである。Heのみを照射した時にみられる照射誘起析出は、重イオンを同時照射することによって大きく減少する。これは重イオンによって生成されたカスケード損傷が、FMDに対して有効なシンクとして作用したことを示す。銅イオンを照射した時は、照射誘起析出は同時照射中にのみ減少するのに対して、希ガスイオン(Ne、Ar)のHeとの同時照射の実験では、その効果は希ガスイオン照射を止めた後にも残る。これは、試料中に蓄積されたガス原子がカスケード損傷を安定化させたために生じたものである。

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