電子線のエネルギー後方散乱と薄層の吸収線量

Energy backscattering of electron beams and absorbed dose in thin layer

加速電圧0.8MeVから1.5MeVまでの電子線に対して、今まで行われた各種元素に対する後方散乱の報告をまとめて検討するとともに通常用居られている照射容器(あるいは基板)の上に置かれた薄層の吸収線量をエネルギー後方散乱を考慮して測定し、数値表としてまとめたものである。

no abstracts in English

使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 87-170
ページ数	:	64 Pages
発行年月	:	1987/10
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-87-170.pdf:2.39MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-87-170
キーワード	:	Backscatter
使用施設	:
広報プレスリリース	:
論文解説記事 (成果普及情報誌)	:
受委託・共同研究相手機関	:
他機関報告書番号	:

Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:
Altmetrics	:

登録番号 : M19870170
抄録集掲載番号 :

[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.