水素負イオンビーム中の不純物測定

Measurement of impurities in a volume produced H-ion beam

Okumura, Yoshikazu; Hanada, Masaya; Kojima, Hiroaki; not registered; Ohara, Hiroshi

負イオンビーム中に含まれる不純物イオンを、磁場質量分析器と分光器を用いて測定した。体積生成型負イオン源からの水素負イオンビーム中には、O $^{-}$ 、OH $^{-}$ 、O $_{2-}$ の不純物負イオンがあるが、それらの量は1%以下である。イオン源のプラズマ密度が高くなると、解離が進むためにOH $^{-}$ イオンは減少し、O $^{-}$ イオンが増加する。質量分析器をM=200まで掃引したが、金属負イオンは観測されなかった。

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使用言語	:	Japanese
報告書番号	:	JAERI-M 89-090
ページ数	:	14 Pages
発行年月	:	1989/07
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-89-090.pdf:0.8MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-89-090
キーワード	:	Impurity; Ion Source; Negative; Volume Production; Mass Analysis; Spectroscopy; Neutral Beam Injector
使用施設	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : M19890090
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