Electron temperature profile measurement using the filter absorption method in JT-60

JT-60における吸収膜法による電子温度分布測定

Nagashima, Keisuke; Nishitani, Takeo; Takeuchi, Hiroshi

JT-60において、2列16チャンネルに配置したPINダイオード検出器を用いて、吸収膜法により電子温度分布を測定した。吸収膜法を用いた場合の誤差評価を、特に不純物の共鳴線について実施した結果、誤差は10-20%程度であることが分かった。この値は、本測定と他の測定法から得られた結果を比較することにより確認でき、線平均電子密度が1.510 $^{19}$ m $^{-3}$ 以下の低電子密度領域を除いて、本測定法が十分利用できることが確認された。

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使用言語	:	English
報告書番号	:	JAERI-M 89-226
ページ数	:	23 Pages
発行年月	:	1990/01
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-89-226.pdf:0.53MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-89-226
キーワード	:	JT-60; 軟X線; 電子温度; PINフォトダイオード; 吸収膜法; 共鳴線
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : M19890226
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