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$$^{242}$$Cm半減期の再測定

Remeasurement of $$^{242}$$Cm half-life

臼田 重和; 鈴木 敏夫; 河野 信昭; 梅澤 弘一

Usuda, Shigekazu; not registered; Kono, Nobuaki; Umezawa, Hirokazu

高純度$$^{242}$$Cmを調製し、その半減期を再測定した。測定は2$$pi$$比例計数管検出器による$$alpha$$放射能測定、低ジオメトリーSi検出器による$$alpha$$線スペクトロメトリー及び低エネルギー測定用純Geプレナー型検出器による$$gamma$$(X)線スペクトロメトリーの独立した3種類の方法を用いて行った。最後は、$$^{242}$$Cmの半減期測定には今まで報告されたことのない方法である。これらの測定値の荷重平均として、161.41$$pm$$0.28日を得た。この値は、前回の我々の測定値161.35$$pm$$0.30日と一致するが、他の文献値より1%程度短い値である。

no abstracts in English

使用言語

 :

Japanese

報告書番号

 :

JAERI-M 90-030

ページ数

 :

13 Pages

発行年月

 :

1990/02

特許データ

 :

PDF

 :

JAERI-M-90-030.pdf:0.47MB

論文URL

 :

https://doi.org/10.11484/jaeri-m-90-030

キーワード

 :

$$^{242}$$Cm; 半減期; 再測定; 高純度測定試料; $$gamma$$放射能測定; 比例計数管; $$gamma$$線スペクトロメトリー; Si検出器; $$gamma$$(X)線スペクトロメトリー; Ge検出器

使用施設

 :

広報プレスリリース

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