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極低温照射試験装置の運転特性

Operation and characteristics of very low temperature irradiation test equipment

笠井 昇; 瀬口 忠男

Kasai, Noboru; Seguchi, Tadao

本報告は、FRPおよび高分子材料の放射線劣化におよぼす照射温度効果について検討するため、1989年3月に高崎研究所$$gamma$$線照射室に設置された極低温照射試験装置の運転特性について調べたものである。装置は円筒状の照射容器の外周に18本のCo-60線源を配置する方式で、液体窒素用と液体ヘリウム用の2種類の照射容器が用いられる。装置の運転特性は、主に照射の線量率と照射容器内の液化ガスの蒸発量について調べた。線量率は液体窒素用照射容器で3.5$$times$$10$$^{6}$$R/h(9.0$$times$$10$$^{2}$$C/kg・h)液体ヘリウム照射容器で3.0$$times$$10$$^{6}$$R/h(7.7$$times$$10$$^{2}$$C/kg・h)であった。照射容器内の液化ガスは照射により蒸発量が多くなり、液体ヘリウムでは照射時において未照射時の30倍の蒸発量であった。本装置では照射時において、液体窒素や液体ヘリウムの供給および液面制御が正常に行われることが確かめられた。

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