河出 清*; 山本 洋*; 山田 隆志*; 加藤 敏郎*; 飯田 敏行*; 高橋 亮人*
Kawade, Kiyoshi*; Yamamoto, Hiroshi*; not registered; Kato, Toshio*; not registered; Takahashi, Akito*
半減期が0.5分から20分程度の短寿命核生成断面積の測定を中性子エネルギー13.4から14.9MeVの範囲にわたり、Mg、Si、S、Cl、Cr、Zn、Ga、Y、In試料に対し、(n,2n)、(n,p)、(n,np)、(n,t)、(n,
)反応断面積を測定した。14MeVまたは熱中性子照射で生成される短寿命核の半減期の測定を
Cu、
Zr、
Nb、
Rhの5核種についてGe検出器を用いてスペクトルマルチスケーリングモードで行なった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-M 90-171 |
ページ数 |
: | 70 Pages |
発行年月 |
: | 1990/10 |
| : | ||
論文URL |
: | |
キーワード |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
InCites™ |
: | |
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
