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飛行時間法を用いた静電場イオン回収時のイオンエネルギー測定

Measurements of collected ion energy by time-of-flight method in static electric field ion-collection

小倉 浩一; 柴田 猛順

Ogura, Koichi; Shibata, Takemasa

平行平板電極間のガドリニウム原子をパルスレーザー光でイオン化し、これを電極間に印加する静電場によりイオンを負電極に回収した。このとき負電極に回収されるイオンのエネルギーを飛行時間法で測定した。平行平板電極にV$$_{o}$$(V)の電圧を印加すると、生成イオン密度が高い場合、プラズマが残り、そのポテンシャルは正電極電位と等しく回収イオンエネルギーはV$$_{o}$$(eV)となること、また、生成イオン密度が低い場合は電極間のポテンシャルは、イオン生成のない場合とほとんど同じで回収イオンエネルギーは1/2V$$_{o}$$(eV)であることが確かめられた。イオンのある場所のポテンシャルは高密度領域から低密度領域へ連続的に遷移し、その遷移点でのイオン密度は印加電圧V$$_{o}$$(V)に比例する。この値は簡単な一次元モデルでも容易に推定できることがわかった。

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