not registered; not registered; Motohashi, Haruhiko
分光結晶の温度や熱変形を解析し、光学的性能の劣化を議論した。3種の冷却水炉形状について、水冷銅試験体を用いた電子線照射(JEBIS)実験を実施し、結果から各水路面の熱伝達率を得た。同形状のシリコン分光結晶を想定し、得られた熱伝達率を導入して、SPring-8偏向電磁石とWPH-33J(原研試作アンジュレータ)の光を照射した場合の温度分布と熱変形を求めた。結果として、初期温度27〔
C〕とすると、偏向電磁石の場合、結晶表面中心は0.27〔MW/m
〕の熱流束を受けて30〔C〕程度になった。アンジュレータの場合、結晶表面中心は8.2〔MW/m〕の熱流束を受けて200~280〔C〕程度になり、結晶表面に23〔
rad〕(シリコン(111)のダーウィン幅)以上のうねりが発生することが判明した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-Research 94-029 |
ページ数 |
: | 54 Pages |
発行年月 |
: | 1994/11 |
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論文URL |
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キーワード |
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