西谷 健夫; 井口 哲夫*; 海老沢 克之*; 北 好夫*; 河西 敏
Nishitani, Takeo; Iguchi, Tetsuo*; Ebisawa, Katsuyuki*; not registered; Kasai, Satoshi
ITERにおけるイオン温度測定を目的とし、反跳陽子法に基づく新型のDT中性子用スペクトロメータを開発した。このスペクトロメータは、ポリエチレン薄膜から入射中性子によって散乱される陽子をマイクロチェンネルコリメータを介して半導体検出器で測定するもので、2.5%のエネルギー分解能と10
counts(n/cm
)の検出効率を得られる。ITERでは、この中性子スペクトロメータを生体遮蔽の外に5チャンネル配置し、イオン温度分布を測定することを想定している。半導体検出器の照射損傷について中性子のモンテカルロ計算により評価し、ITERの運転環境において1年程度の寿命があることを示した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-Tech 96-038 |
ページ数 |
: | 29 Pages |
発行年月 |
: | 1996/09 |
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論文URL |
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キーワード |
: | Neutron Spectrometer; ITER; Recoil Proton Counter-telescope; Ion Temperature; Silicon Surface Barrier Detector; MCNP |
Access |
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