A Novel spectroelectrochemical cell for in situ surface X-ray scattering measurements of single crystal disk electrodes

単結晶円板電極のその場X線散乱測定用の新しい光電気化学セル

近藤 敏啓*; 田村 和久*; 高橋 正光; 水木 純一郎; 魚崎 浩平*

Kondo, Toshihiro*; Tamura, Kazuhisa*; Takahashi, Masamitsu; Mizuki, Junichiro; Uosaki, Kohei*

単結晶電極を研究するために、表面X線散乱用の新しい光電気化学セルを作製した。この光電気化学セルを用いることで、単結晶電極の特定の面の電気化学的性質がメニスカスモードで測定できるとともに、表面X線散乱実験も容易におこなうことができる。このセルの有効性を示すために、電析量の精密さが要求される試料: Au(111)及びAu(001)上のPd薄膜の電析を研究した。

A nwely designed spectroelectrochemical cell was constructed for surface X-ray scattering (SXS) to study single crystal electrodes. Electrochemical characteristics of a specific face of a single crystal electrode can be investigated in the meniscus mode, adn SXS measurement can be easily carried out using the spectroelectrochemical cell. The usefulness of the present cell was demonstrated by studying the electrochemical deposition of Pd thin layers on Au(111) and Au(001) that require precise amounts of Pd deposits.