Inferring spatial profile from background light in incoherent Thomson scattering diagnostic

非協同トムソン散乱計測における背景光データを用いた有効荷電数()分布の測定

内藤 磨; 波多江 仰紀

Naito, Osamu; Hatae, Takaki

トムソン散乱計測機器を用いて、電子温度分布,電子密度分布と同時にプラズマの有効荷電数()分布を計測する方法について報告する。通常は正味の散乱光子数を求めるために散乱光からの差し引きだけに使われる背景光のデータは制動放射光の視野積分の情報を含んでいる。シミュレーションによる解析の結果、不純物線からの背景光への寄与が制動放射光の1割以下であれば、この背景光のデータを用いることにより十分な精度で有効荷電数分布を再構成できることを明らかにした。

A simulation study on the feasibility of inferring spatial profile along with electron temperature and density in Thomson scattering diagnostic is presented. The background signal, which is usually discarded after subtracted from the Thomson scattered signal, is used in the reconstruction procedure. If the contribution from line radiation to the background signal is by one order of magnitude smaller than that from bremsstrahlung, a fairly accurate profile can be reconstructed.