Calibration of heavy ion beam probe energy analyzer using mesh probe in the JFT-2M tokamak

JFT-2Mにおけるメッシュプローブを用いたHIBP用エネルギー分析器の較正

神谷 健作; 三浦 幸俊; 井戸 毅*; 浜田 泰司*

Kamiya, Kensaku; Miura, Yukitoshi; Ido, Takeshi*; Hamada, Yasuji*

メッシュプローブを用いた重イオンビームプローブ用平行平板型エネルギー分析器の直接的な較正手法を確立した。ガス散乱による較正実験においてメッシュプローブ内にサンプル体積を導入した後、ACバイアスを印加することにより、観測される2次ビームの規格化差分量がバイアス電圧に比例することを確認した。同時に、規格化差分量のバイアス電圧に対する勾配が、理論計算から予想されるように分析器への入射角に依存することも確認できた。ビームのメッシュ透過率は約40%であるが、ビーム電流は10マイクロAとすることにより良好なS/Nが得られた。今回の絶対較正結果は誤差10%以下であり、メッシュプローブを用いない通常のガス散乱による較正結果と良い一致を示した。

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