Evaluation of ion temperature using ion sensitive probe in the boundary plasma of the JFT-2M tokamak

JFT-2Mトカマクの境界プラズマにおけるイオンセンシティブプローブを用いたイオン温度の評価

Uehara, Kazuya; Fukumoto, Ryosuke*; Tsushima, Akira*; Amemiya, Hiroshi*

静電プローブによる強磁場中のイオン温度の有力な測定法であるイオンセンシティブプローブの性能を拡張する目的でイオンセンシティブプローブの電子障壁の有限幅を考慮した粒子シミュレーションを行った。電子障壁の高さhに対するイオン電流の依存性を計算して、実験的に得られるイオン電流-h特性からより正確にイオン温度を評価できることが示された。hがリモート制御できるような改造型のイオンセンシティブプローブをJFT-2Mのプラズマに適用し、オーミック加熱時及びL/H遷移時のイオン温度を測定することに成功した。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of the Physical Society of Japan
巻	:	72
号	:	11
ページ数	:	p.2804 - 2810
発行年月	:	2003/11
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	イオン温度; イオンセンシティブプローブ; 粒子シミュレーション; 電子障壁; イオン電流; JFT-2M; L/H遷移

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1143/JPSJ.72.2804
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InCites™	:	パーセンタイル：34.25 分野：Physics, Multidisciplinary
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登録番号 : A20020522
抄録集掲載番号 : 320028
論文投稿番号 : 20578

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