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Decomposition of 2-deoxy-$$D$$-ribose by irradiation with 0.6 keV electrons and by 0.5 keV ultrasoft X-rays

酸素K殻励起によるデオキシリボースの分解

藤井 健太郎; 赤松 憲; 横谷 明徳

Fujii, Kentaro; Akamatsu, Ken; Yokoya, Akinari

放射線のトラックエンドで生じる低エネルギー電子によって引き起こされるDNAダメージは、さまざまな過程を経て進むと考えられ、非常に複雑である。損傷を引き起こす線源として単色超軟X線を利用した内殻励起を用いることにより、このような複雑なプロセスをオージェ過程といった特定の過程を選択することが可能になる。本研究では軟X線及び低エネルギー電子線を照射することにより、2-deoxy-$$D$$-ribose分子の酸素K殻励起を行い、その後に生成する正イオンの脱離を四重極質量分析器によって観測した。それによると、538eVの軟X線照射によって、H$$^{+}$$,CH$$_{x}^{+}$$,C$$_{2}$$H$$_{x}^{+}$$,CO$$^{+}$$,CHO$$^{+}$$,CH$$_{2}$$OH$$^{+}$$及びC$$_{3}$$H$$_{x}$$O$$^{+}$$の脱離が観測された。一方、低エネルギー電子衝撃によって得られたマスパターンは、H$$^{+}$$イオン収量が比較的多い以外は、軟X線衝撃によって得られたスペクトルと良い一致を示した。両者の違いは軟X線と電子線の衝突モードの違いによるものと考えられる。このように、異なる線源による照射によって得られたデータを比較することによって、2-deoxy-$$D$$-riboseの分解を通して、DNA鎖切断や塩基損傷のメカニズムについてのディスカッションを行った。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

International Journal of Radiation Biology

巻

 :

80

号

 :

11-12

ページ数

 :

p.909 - 914

発行年月

 :

2004/11

発表会議名

 :

13th LH Gray Workshop 5th Auger Symposium

開催年月

 :

2003/08

開催都市

 :

Melbourne

開催国

 :

Australia

キーワード

 :

DNA損傷; 内殻励起; オージェ過程; 低エネルギー電子

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

https://doi.org/10.1080/09553000400017721

研究データの公開先DOI

 :

使用施設

 :

広報プレスリリース

 :

論文解説記事
(成果普及情報誌)

 :

受委託・共同研究相手機関

 :

Access

 :

- Accesses

InCites™

 :

パーセンタイル：52.68

分野：Biology

Altmetrics

 :

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