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DNA strand breaks by direct energy deposition by Auger and photo-electrons ejected from DNA constituent atoms following K-shell photoabsorption

DNA構成元素の内殻光吸収によって誘発されるオージェ効果によるDNA損傷の解析

渡邊 立子; 横谷 明徳; 藤井 健太郎; 斎藤 公明

Watanabe, Ritsuko; Yokoya, Akinari; Fujii, Kentaro; Saito, Kimiaki

軟X線領域には、DNAを構成する元素,炭素,窒素,炭素及びリンのK殻の吸収端が含まれる。このためDNAを軟X線照射した場合に放出される二次電子のエネルギースペクトルは、吸収端の上下で大きく異なる。特に、DNA構成元素から放出される二次電子は飛程が短いため、DNAに与える損傷の生成効率は、二次電子のスペクトルに敏感に左右されるはずである。本研究では、K殻吸収端を挟む上下のエネルギーの単色X線を選んでDNAを照射した場合の二次電子のエネルギースペクトル,エネルギー付与分布,DNA鎖切断の生成効率との関係を、光吸収過程のモデル化及び二次電子の飛跡をシミュレーションすることにより解析した。この結果、K殻吸収が起こるとリンの場合は鎖切断効率が増加するが、他の元素の場合には収率が減少するなど、吸収端上下での大きなスペクトル変化がDNA鎖切断の生成効率に影響することを予測することができた。

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パーセンタイル:30.28

分野:Biology

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