からのFPガス放出機構柴 是行; 半田 宗男; 山岸 滋; 福田 健; 高橋 良寿; 谷藤 隆昭; 大森 俊造; 伊藤 昭憲
Shiba, Koreyuki; not registered; not registered; not registered; not registered; Tanifuji, Takaaki; not registered; not registered
FGRLを用いて250~930
Cの比較的低温における照射下のUOからのFPガス放出速度を測定し、その機構について研究した。実測された放出速度のうち試料ホルダからの放出分を補正し、UOからの真の放出速度を算出した。またノックアウト機構による放出速度も実測した。その結果は従来の通説とは異なり、(特に短寿命核種の場合には)ノックアウトが主な放出機構でないことを明らかにした。低温照射下での放出挙動をよく説明するために、新しく擬反跳(pseudo-recoil)機構を提案した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 48 |
号 |
: | 3 |
ページ数 |
: | p.253 - 263 |
発行年月 |
: | 1973/03 |
キーワード |
: | FPガス放出; 照射下放出機構; インパイルループ; UO |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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