超高圧電子顕微鏡を用いた固体の放射線損傷および構造欠陥の研究

Studies on Radiation Damage and Structural Defects using a High Voltage Electron Microscope

超高圧電顕の特徴とその効用を、重要な部分だけ簡単に説明し、次にこれを用いて、固体の放射線損傷と構造欠陥の研究する場合の研究の進め方と問題点について、応用例を挙げながら概説した。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	原子力工業
巻	:	21
号	:	2
ページ数	:	p.53 - 56
発行年月	:	1975/02
発表会議名	:
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開催国	:
キーワード	:	超高圧電子顕微鏡

特許データ	:
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論文URL	:	http://ci.nii.ac.jp/naid/40001072041
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : A19744359
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 4189

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