On-stream X-ray fluorescence analysis with self-compen-sation for slurry density variation

スラリー密度変化を自己補償したオンストリーム蛍光X線分析

スラリー密度変化に対して、補正を必要としない、蛍光X線法オンストリーム分析を提案した。スラリー密度の変化にさいして、栄光X線と散乱X線の強度増減が相反する性質を有することに着目し、フィルター厚さ及びパルスハイトウインドウをあらかじめ調節して、蛍光X線チャンネルが、散乱線に比例したバックグラウンドをもつようにセットしておく。スラリー密度が増加したとき、正味の蛍光X線計数の増大は、バックグラウンドの減少により自己補償される。実験室及び工場現場(チリ銅山)における実験結果、ならびに理論的解析について述べた。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Int.J.Appl.Radiat.Isot.
巻	:	29
号	:	9-10
ページ数	:	p.537 - 541
発行年月	:	1978/00
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キーワード	:	オンストリーム; 銅分析; 蛍光X線; 散乱X線; スラリー; 密度変化; 自己補償; RI線源

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1016/0020-708X(78)90162-X
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登録番号 : A19777496
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 5203

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