Thomson scattering measurements on ohmically heated plasmas in the JFT-2 tokamak

JFT-2トカマクにおけるオーミック加熱プラズマのトムソン散乱計測

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JFT-2トカマク装置においてQスイッチルビーレーザーを用いたトムソン散乱計測によりオーミック加熱水素プラズマの電子温度・電子密度が測定された。測定範囲は電子温度で0.08~1.2keV、電子密度で210 $^{1}$ $^{2}$ ~4.410 $^{1}$ $^{3}$ cm $^{-}$ $^{3}$ であり、それらの空間分布も測定できた。電子温度はプラズマ電流に比例して変化し、等価荷電数は電子密度の増加により減少した。電子温度の空間分布計測値から電子熱伝導計数の実験値を求めることができ理論値と比較して以下の結論を得た。Ke $^{N}$ $^{C}$ ≪Ke $^{E}$ $^{X}$ $^{P}$ ≦Ke $^{D}$ $^{T}$ $^{E}$ ここでKe $^{E}$ $^{X}$ $^{P}$ は実験値であり、Ke $^{N}$ $^{C}$ は新古典論Ke $^{D}$ $^{T}$ $^{E}$ は散逸的捕かく電子論による理論値である。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Japanese Journal of Applied Physics
巻	:	18
号	:	3
ページ数	:	p.611 - 619
発行年月	:	1979/00
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	Thomson Scattering; Plasma; Tokamak; Ruby Laser; Thermal Conductivity; Electron Temperature; Electron Density

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1143/JJAP.18.611
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登録番号 : A19788238
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 5302

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