Neutron diffraction topographic observation of the {100}-layer substructure in a Cu-5%Ge single crystal

Cu-5%Ge単結晶中の{100}一層状亜構造の中性子回折トポグラフィ観察

富満 広

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中性子回折のトポグラフィーによって、Cu-5%Ge単結晶(ブリッジマン法製)の内部構造の観察を行った。その結果、その内部構造は成長方向に平行な(001)面が、間隔1mmで配列している「層状亜構造」であることがわかった。更に(001)層が微細な構造を有することも見出された。それは、中心の速い層に直角に、(100)や(010)の指数をもつ板が付着しているという構造である。これら三種類の{100}層構造は、表面の縞模様によく対応することがわかった。上記の亜構造モデルは、従来見出されていたセル構造やリニエジ構造とは異なるもので、新たな成長模様を示唆するものである。Appendexにおいて、トポグラフ上の像のコントラストがニ次消衰の回折理論を上記モデルに適用すれば、よく説明されることが示された。

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