鏡筒遮蔽型X線マイクロアナライザーの開発

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高放射性物質の表面状態および構成元素の種類、分布状態を調べるのに一般に使用されている極普通のX線マイクロアナライザーと同様な操作、即ちホットセルやマニプレータなど使用せず直接操作することができないかを検討して、使い易い鏡筒遮蔽型のX線マイクロアナライザーを設計、製作した経緯を述べた。また本装置を用いた実験結果を検討評価し、新しい照射後試験項目として充分提供し得ることを確認した。

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使用言語	:	Japanese
掲載資料名	:	日本原子力学会誌
巻	:	23
号	:	5
ページ数	:	p.353 - 354
発行年月	:	1981/00
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	X線マイクロアナライザー; 高放射性物質; 照射後試験; 鏡筒遮蔽

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.3327/jaesj.23.353
研究データの公開先DOI	:
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : A19800508
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 5987

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