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Electron microscope observations of tracks of 130MeV Cl$$^{9}$$$$^{+}$$ ions in solids

固体中の130MeV Cl$$^{9}$$$$^{+}$$イオン飛跡の電子顕微鏡観察

古野 茂実; 大津 仁; 出井 数彦

not registered; not registered; Izui, Kazuhiko

タンデム加速器による最初の実験として、130MeVのCl$$^{9}$$$$^{+}$$イオンを無機化合物(MoO$$_{3}$$およびMoS$$_{2}$$)薄膜結晶に照射して、形成された飛跡を電顕により観察した結果について報告する。Cl$$^{9}$$$$^{+}$$イオンを試料表面に対して垂直方向からMoO$$_{3}$$結晶に入射させると入射粒子の数に対応して直径約40$AA$の穴が生じ、イオンの固体検出器としての有効性を示した。次にCl$$^{9}$$$$^{+}$$イオンを表面に斜め方向から入射させた場合にはMoO$$_{3}$$においては巾約40$AA$の直線状飛跡が、またMoS$$_{2}$$においては直線状に並んだ反転からなる飛跡を観察した。前者においては、電子励起過程に費やされたイオンのエネルギーによる熱スパイク効果が飛跡形成の主因であり、後者では電子励起よりも核的衝突による不連続なエネルギー付与が主因となって、このような飛跡が形成されたものと解釈した。また入射イオンの高角度散乱を示す飛跡がまれに観察されることを示し、衝突の際のエネルギー伝達について定量的検討を行った。

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