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Electron excitation and capture in F$$^{8}$$$$^{+}$$ plus Ne collisions

F$$^{8}$$$$^{+}$$Ne衝突における電子励起と電子捕獲

P.Richard*; P.L.Pepmiller*; 川面 澄

P.Richard*; P.L.Pepmiller*; Kawatsura, Kiyoshi

6MVタンデム加速器を用いて15~40MeVのF$$^{8}$$$$^{+}$$イオンとNeガス標的の衝突により発生するF-KX線をわん曲型結晶分光器で測定すると共に10~40MeVの領域ではプロポーショナル・カウンターを用いてF-KX線発生断面積を求めた。電子励起による2p$$rightarrow$$1s遷移や電子捕獲による1s2p($$^{3}$$P)、1s2p($$^{1}$$P)、1s3p及び1s4p$$rightarrow$$1s$$^{2}$$遷移によるX線スペクトルも観測することができた。10~40MeVにおいて電子捕獲によるX線発生断面積は40分の1に減少する一方、電子励起によるX線発生断面積に約3倍増加することがわかった。

no abstracts in English

使用言語

 :

English

掲載資料名

 :

Phys.Rev.,A

巻

 :

25

号

 :

4

ページ数

 :

p.1937 - 1942

発行年月

 :

1982/00

発表会議名

 :

開催年月

 :

開催都市

 :

開催国

 :

キーワード

 :

重イオン; 原子衝突; タンデム加速器; X線; Fイオン; Ne; 電子励起; 電子捕獲

特許データ

 :

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