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Radiative electron-capture processes in zero- and one-electron heavy-ion collisions with He

0-及び1-電子入射イオンとHeとの衝突による放射電子捕獲過程

俵 博之*; 川面 澄; P.Richard*

not registered; Kawatsura, Kiyoshi; P.Richard*

一回衝突の条件下で、入射イオンのK殻空孔へ直接に標的原子の電子が捕獲される時発生するX線(REC)をHeガスを標的として測定した。6MVタンデム型加速器を用いて、15$$sim$$40MeVのエネルギー範囲で、K殻にすでに空孔を持っているF$$^{8}$$$$^{+}$$及びF$$^{9}$$$$^{+}$$イオンを入射イオンとした。F$$^{9}$$$$^{+}$$イオンに対する90°方向のRECX線発生断面積はBethe-Salpeterの計算値とよい一致を示した。F$$^{8}$$$$^{+}$$及びF$$^{9}$$$$^{+}$$イオンに対する全REC発生断面積は電子捕獲の全断面積より3桁以上小さいことが明らかになった。理論によると高エネルギーでの衝突では非放射過程より放射過程(REC過程)が強くなることが示されており、高エネルギー重イオン加速器を用いたRECX線の研究が興味深いことを指摘した。

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