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X-RAY powder diffraction analysis of alpha-event radiation damage in zircon(ZrirO$$_{4}$$)

ジルコン(ZrSiO$$_{4}$$)における$$alpha$$線損傷のX線粉末法による解析

村上 隆; Bryan C.Chakoumakos*; Rodney C.Ewing*

not registered; Bryan C.Chakoumakos*; Rodney C.Ewing*

Sri Lanka産のZirconは地質学的時間スケールで結晶中でのアルファ線損傷の効果を調べるのに好都合なサンプルである。7つのZirconを使いドーズ計算のためU,Th濃度を調べた後、X線粉末法により、アルファ線損傷の進行状況が解析された。その結果、結晶中でのアルファ線損傷による変化は一次的でなく次のような3段階に分けうることがわかった。(1)3$$times$$10$$^{1}$$$$^{5}$$$$alpha$$/mg以下。回折ピークは鋭いが位置は移動する。反跳核による非周期性領域(いわゆる非晶質部)の発生の段階。(2)3-8$$times$$10$$^{1}$$$$^{5}$$$$alpha$$/mg。ピークプロファイルの拡大と非対称化が進む。非周期性領域の増大の段階。(3)$$>$$8$$times$$10$$^{1}$$$$^{5}$$$$alpha$$/mg以上。X線的に非晶質になる。広範囲での周期性を失う段階。また新しいDeconrolution法で求められた格子定数は従来法によるそれと特に(2)の段階で差が認められた。

no abstracts in English

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