Post-irradiation examination of LEU miniplates in the JMTR

JMTRにおけるLEUミニプレートの照射後試験

not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; Okamoto, Yoshizo

JMTR燃料の濃縮度低減化計画に基づき、濃縮度19.5%の3種類のLEUミニプレート(U密度4.8g/cm $^{3}$ 及び5.3g/cm $^{3}$ のU $_{3}$ Si $_{2}$ とU密度5.3g/cm $^{3}$ のU $_{3}$ Si)11枚を照射した。JMTRの2サイクル(44日)照射により、燃焼度は25.3%~37.7%であった。これらのミニプレートの照射後試験として外観検査、X線検査、ガンマスキャンニング、酸化膜厚さ測定、寸法測定、重量測定、体積測定、ブリスター試験、金相試験を行った結果、ミニプレートすべてにおいて、異常あるいは不都合な照射挙動は認められず、健全性が確認された。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	ANL-RERTR-TM-9
巻	:
号	:
ページ数	:	P. 16
発行年月	:	1988/00
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キーワード	:	濃縮度低減化; LEUミニプレート; シリサイド燃料; 照射後試験

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登録番号 : B19866647
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 8822

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