Application of X-ray-induced Auger electron spectroscopy to state analyses of hydrogen implanted in Y,Zr and Nb metals

金属イットリウム、ジルコニウム及びニオブに注入された水素の状態分析へのX線励起オージェ電子スペクトルの応用

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水素イオン注入した金属の表面化学状態を調べるためにX線励起オージェ電子スペクトル(XAES)を応用した。イオン注入したイットリウム、ジルコニウム、ニオブのM $_{4}$ $_{,}$ $_{5}$ N $_{2}$ $_{,}$ $_{3}$ Vオージピークの金属状態からの化学シフトはそれぞれ1.0eV、3.3eV、2.2eVでありX線光電子分光スペクトルにおける対応する3d5/2ピークの化学シフトにより大きかった。

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発表言語	:	English
掲載資料名	:	Surface and Interface Analysis
巻	:	6
号	:	4
ページ数	:	p.171 - 173
発行年月	:	1984/00
発表会議名	:
開催年月	:
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キーワード	:	X-ray-induced Auger; Electron Spectroscopy; Hidrides; Yttrium; Zirconium; Niobium

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1002/sia.740060405
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広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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InCites™	:	パーセンタイル：79.12 分野：Chemistry, Physical
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登録番号 : A19833446
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 7323

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