Measurement of neutral beam species ratio by solid-state detector

半導体検知器による中性粒子ビーム成分比の測定

Ohara, Yoshihiro; not registered; not registered; not registered; not registered

JT-60中性粒子入射加熱装置原型ユニットで発生される中性子ビームのエネルギースペクトルを、半導体検知器で直接的に測定した。求められたビーム成分比は、分光測定等の他の方法で求められたビーム成分比とよく一致し、JT-60NBI用イオン源のビーム成分比の再確認ができた。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Review of Scientific Instruments
巻	:	56
号	:	4
ページ数	:	p.525 - 528
発行年月	:	1985/00
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	JT-60; 中性粒子入射; 加熱装置; エネルギースペクトル; ビーム成分比; イオン源; 中性粒子ビーム

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1063/1.1138279
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広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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InCites™	:	パーセンタイル：48.08 分野：Instruments & Instrumentation
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登録番号 : A19844250
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 7376

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