芳香族系ポリイミドの耐放射線性

Radiation effects of aromatic polyimide

化学構造の異なる6種類の芳香族系ポリイミドの電子線照射効果を主として引張り試験に基づいて検討した。線量の増大と共に顕著な伸びの低下が認められた。この伸びの減少から劣化の度合いを評価した。化学構造の違いによって明らかに耐放射線性に差が認められた。芳香族イミド環の他に-C(CH $_{3}$ ) $_{2-}$ -,-O-,-CH $_{3}$ -CH $_{3}$ -を含むポリイミドの相互比較を行った結果、酸化作用の少ない電子線照射の場合の構成ユニットの耐放射線性の序列として-CH $_{3}$ -CH $_{3}$ - -O- -C(CH $_{3}$ ) $_{2-}$ -を得た。さらに-O-を含むポリイミドに線(1.39Gy/sec)を酸素圧0.7MPaの酸化条件で照射したところ、電子線(510 $^{3}$ Gy/sec)の場合と比較して劣化が著るしいことが明らかとなった。IRの検討から、真空中照射に擬せられる電子線照射の場合と酸化条件下での線照射の場合では反応機構が異なることを明らかにした。

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発表言語	:	Japanese
掲載資料名	:	高分子論文集
巻	:	42
号	:	4
ページ数	:	p.283 - 290
発行年月	:	1985/04
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	Aromatic Polyimide; Electron Beam; -rays; Tensile Properties; Deterioration; IR Spectra

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1295/koron.42.283
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広報プレスリリース	:
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登録番号 : A19844310
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 7348

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