Electron and Ar $^{+}$ ion impact effects on SiO $_{2}$ , Al $_{2}$ O $_{3}$ and MgO

SiO $_{2}$ 、AlO $_{2}$ およびMgOに対する電子とAr $^{+}$ イオンの影響

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抄録なし

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	Journal of Nuclear Materials
巻	:	128-129
号	:
ページ数	:	p.605 - 608
発行年月	:	1984/00
発表会議名	:
開催年月	:
開催都市	:
開催国	:
キーワード	:	Auger Spectrum; Electron Impact; Surface Defect; SIMS; Secondary Ion; Desorption Cross Section; MgO

特許データ	:
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論文URL	:	https://doi.org/10.1016/0022-3115(84)90420-3
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広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
Web of Science® Times Cited Count	:	被引用回数：評価・統計等のため最新の被引用回数を確認したい場合は、直接Web of Science®をご確認ください。 http://www.webofknowledge.com/wos
InCites™	:	パーセンタイル：65.33 分野：Materials Science, Multidisciplinary
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登録番号 : A19849005
抄録集掲載番号 :
論文投稿番号 : 7191

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Electron and Ar ion impact effects on SiO, AlO and MgO

SiO、AlOおよびMgOに対する電子とArイオンの影響

Electron and Ar $^{+}$ ion impact effects on SiO $_{2}$ , Al $_{2}$ O $_{3}$ and MgO

SiO $_{2}$ 、AlO $_{2}$ およびMgOに対する電子とAr $^{+}$ イオンの影響