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軟X線発生装置を使用して、1~50mm厚さのグラファイトの放射線透過試験を行った。まず、欠陥を検出するのに最適なフィルム濃度を得るための露出線図を作成するとともに、フィルムの像質におよぼす、線源
フィルム間の雰囲気、フィルムホルダー等による放射線の散乱、吸収の影響について検討を行った。次に模擬欠陥を有するグラファイトを用い、欠陥の識別度を求めた。更に、クラックゲージを作成して、割れ欠陥の検出の限界を求めると共に、自然欠陥への適用を試みた。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-M 7862 |
ページ数 |
: | 24 Pages |
発行年月 |
: | 1978/09 |
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論文URL |
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キーワード |
: | Low-voltage Radiography; graphite; exposure chart; film density; I.Q.I.Sensitivity; crack; flaw |
Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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Altmetrics |
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