NTAフイルムの測定を自動化する一環として、濃淡レベルのあるデジタル画像から飛跡の線分要素を抽出する方法を示した。この方法の特徴は背景部分の画素の濃淡レベルが移動しても、飛跡の細線要素を抽出できるように、各画素でその周辺の画素と比較しながら細い線分要素があるか否かを判定していくことにある。飛跡のある顕微鏡写真を7ビット/画素で364
323画素のデジタル画像にした後、ここで述べる方法でこの画像データを処理した結果、この方法は飛跡画素のみを主として抽出することが知られた。また、この方法は暗い背景にある飛跡でも明るい背景にある飛跡でも、いずれの飛跡画素をも抽出することが知られた。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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報告書番号 |
: | JAERI-M 8085 |
ページ数 |
: | 24 Pages |
発行年月 |
: | 1979/02 |
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論文URL |
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キーワード |
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Access |
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- Accesses |
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