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Safety Evaluation of Simulated High-Level Waste Glass Products, 2; Preliminary Tests on Durability of Glass Products in Accelerated Electron Beam Irradiation

模擬高レベル廃棄物ガラス固化体の安全性試験,II; 電子線照射による固化体の耐放射線性予備試験

馬場 恒孝; 田代 晋吾; 荒木 邦夫

not registered; not registered; Araki, Kunio

高放射性の核種を含有する高レベル廃棄物ガラス固化体は長時間におよぶ放射線による安定性を要求される。本報では、模擬廃棄物を含有したホウケイ酸ガラス固化体について、加速電子線で吸収線量、10$$^{1}$$$$^{0}$$radを得る照射を行い、浸出率測定および示差熱分析によって、固化体の耐放射線性を予備的に検討した。その結果、固化体の均質性とNa配合比が電子線照射による浸出率の増加にわずかに影響するが、平均して大きな変化はないことが明らかになった。また、示差熱分析の結果、照射後のガラスに蓄積されたエネルギーが、約180$$^{circ}$$Cで解放されることが認められた。

no abstracts in English

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