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正方晶ZrO$$_{2}$$を含むジルカロイ酸化膜の特性; ジルカロイ-4管の酸化膜

Characterigation of Oxide Scales Containing a Metartalle Tetragonal ZrO$$_{2}$$ (Oxide Scales on the Zircaloy-4)

本橋 治彦; 古田 照夫

not registered; not registered

ジルカロイ-4管が水素・水蒸気の混合気流中、1000$$^{circ}$$Cで酸化した時に生成する層状酸化膜の特性を20$$^{circ}$$C~1300$$^{circ}$$Cの温度でX線回折法により調べた。室温におけるX線回析図形の解析から、正方晶ZrO$$_{2}$$を含む層状酸化膜中の単斜晶ZrO$$_{2}$$は340$AA$の小さな結晶子となり0.03%の大きな格子歪を持ちそして111の格子面間隔が標準物質より0.7%大きくなっていることを明らかにした。また高温X線回折から正方晶ZrO$$_{2}$$を含む層状酸化膜中の単斜晶ZrO$$_{2}$$はゆるやに相変化を起こすことがわかった。この相変化の起こる温度は正方晶ZrO$$_{2}$$を含まない酸化膜中の単斜晶ZrO$$_{2}$$の相変化温度より低くなっている。これらの事実から正方晶ZrO$$_{2}$$を含む層状酸化膜の生成は酸化膜の結晶子の微細化と大きな格子歪か生じる事と相関性があることを明らかにした。

no abstracts in English

使用言語

 :

Japanese

報告書番号

 :

JAERI-M 83-132

ページ数

 :

15 Pages

発行年月

 :

1983/08

特許データ

 :

PDF

 :

JAERI-M-83-132.pdf:0.66MB

論文URL

 :

https://doi.org/10.11484/jaeri-m-83-132

キーワード

 :

Zircaloy-4; Oxidation; Zirconia; x-ray Diffraction; Phase change; Layoss Oxide Scales; Lattice Strain; Lattice Spacing; Crystallite size

使用施設

 :

広報プレスリリース

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