Particles,-(II)粒子のEPMA-(II)湊 和生 
; 小川 徹; 福田 幸朔; 井川 勝市; 岩本 多實
Minato, Kazuo; not registered; not registered; Ikawa, Katsuichi; Iwamoto, K.
照射済Triso被覆UO2粒子をEPMAを用いて観察した。この実験は、初歩的なものであったが、パラジウウムのSiC層内面における蓄積、およびSiC層中への進入が見られた。パラジウム量が1粒子あたり1.1
10
~3.610atom/particleの粒子において、パラジウムのSiC層内面における蓄積が見られた。パラジウムの蓄積は、粒子の高温側でも低温側でも見られたが、蓄積量および蓄積個所は、低温側の方が多かった。セリウム、テルル、およびバリウムは、バッファーPyC層中ばかりでなく、SiC層内面でも検出された。被覆層中の塩素の検出を試みたが、使用した樹脂に塩素が含まれていたため、妨害された。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-M 84-002 |
ページ数 |
: | 56 Pages |
発行年月 |
: | 1984/02 |
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論文URL |
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キーワード |
: | HTGR; Coated Particles; EPMA; Fission Products; SiC; Palladium; Cerium |
Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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