X-Ray Photoelectron and X-Ray-Induced Auger Electron Spectroscopic Data, I; 3d Transition-Metals(Sc,Ti,V,Ni)and Related Oxides

X線光電子分光及びX線励起オージェ電子スペクトルデータ集 I.3d遷移金属(Sc、Ti、V、Ni)及びその酸化物

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3d遷移金属とその酸化物固有のX線光電子分光スペクトル(XPS)及びX線励起オージェ電子スペクトル(XAES)を測定した。金属の真正表面は2通りの方法、すなわち超高真空中やすり研摩法及びアルゴンイオンエッチング法で得た。測定した酸化物はSc $_{2}$ O $_{3}$ 、TiO $_{2}$ 、V $_{2}$ O $_{5}$ 、NiOである。本報は4種のワイドスキャン、26種の内殻スペクトル、10種の価電子帯スペクトル及び20種のXAESスペクトルから成る。内殻及びオージェピークの位置については、その化学シフトと共に表にまとめた。

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使用言語	:	English
報告書番号	:	JAERI-M 84-005
ページ数	:	37 Pages
発行年月	:	1984/02
特許データ	:
PDF	:	JAERI-M-84-005.pdf:0.57MB
論文URL	:	https://doi.org/10.11484/jaeri-m-84-005
キーワード	:	X-ray Photoelectron Spectroscopy; X-ray-induced Auger Electron; Spectroscopy; Scandium; Titanium; Vanadium; Nickel; Oxides; Sputtering
使用施設	:
広報プレスリリース	:
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Access	:	- Accesses
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登録番号 : M19840005
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