not registered; Nagashima, Keisuke; not registered
JT-60のジュ-ル実験及び初期中性粒子入射加熱実験において、液体窒素冷却した高純度ゲルマニウム検出器を用いて軟X線の波高分析測定を実施した。100msの時間分解能で軟X線スペクトルを測定する事により、電子温度の時間変化が測定された。得られた電子温度はプラズマ電流2MAのダイバ-タ-ジュ-ル加熱放電において 3.0keV程度まで達した。また、得られた軟X線スペクトルより、主な金属不純物はチタンであった。ジュ-ルプラズマにおける典型的なチタン濃度は電子密度の10
%程度であり、この時の実効電荷数は1.2と測定された。更に、中性粒子入射加熱時のチタン濃度は ジュ-ル加熱時の概そ2倍程度であった。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
|---|---|---|
報告書番号 |
: | JAERI-M 87-011 |
ページ数 |
: | 24 Pages |
発行年月 |
: | 1987/02 |
| : | ||
論文URL |
: | |
キーワード |
: |
Access |
: |
- Accesses |
|---|---|---|
InCites™ |
: | |
Altmetrics |
: |
[CLARIVATE ANALYTICS], [WEB OF SCIENCE], [HIGHLY CITED PAPER & CUP LOGO] and [HOT PAPER & FIRE LOGO] are trademarks of Clarivate Analytics, and/or its affiliated company or companies, and used herein by permission and/or license.
