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高エネルギー粒子輸送解析のための損失粒子計測

Escaping fast ion diagnostics for the fast particle transport analysis

磯部 光孝*; 篠原 孝司

Isobe, Mitsutaka*; Shinohara, Koji

磁気閉じ込めプラズマの損失高エネルギーイオン計測について記述する。プラズマ中における高エネルギー粒子の計測は、系内に閉じ込められた状態を計測するものと、系外へ損失してくるものを測定するものとに分けられる。本講座で述べる損失粒子計測とは、プラズマ外へ損失してくる高速イオンを真空容器内で、エネルギー並びに時間分解よく直接的に検出し、得られた損失高速イオンデータの解析から、高速イオンの閉じ込めの様子や損失過程について調べようというものである。初めに代表的な計測法として半導体検出器,シンチレータプローブ,ファラデーカップ型プローブの基本原理の説明を行い、次に具体的な事例を紹介する。具体的な実験事例としてTFTR, JFT-2M, CHS, W7-ASのものを紹介する。

Escaping energetic ion diagnostics in magnetically confined plasma experiments are described in this lecture note. Experimental results from escaping energetic ion diagnostics in TFTR, JFT-2M, CHS and W7-AS are shown. In addition to mechanism of energetic ion loss from a viewpoint of particle orbit, effect of MHD activity on energetic particle transport is reviewed.

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