放射光軟X線状態分析の研究・技術動向

Research trends in synchrotron-radiation soft X-ray spectroscopy for chemical analysis

村松 康司

Muramatsu, Yasuji

放射光軟X線状態分析法として、吸収分光法,光電子分光法及び発光分光法の研究・技術動向を説明する。吸収分光法では、2keVを越える領域の測定,溶液試料の測定,光源の偏光制御を利用した新しい測定が可能になってきた。光電子分光法では、分解能(E/E)が10000を越える高分解能測定と、より高いエネルギーの放射光励起によるバルク敏感な測定がなされるようになってきた。発光分光法では、より高分解能な発光分光装置の開発が進み、溶液試料の測定も行われるようになってきた。また、実際の工業炭素材料を対象とした放射光軟X線状態分析例として、いぶし瓦表面炭素膜の化学状態分析とホウ素ドープダイヤモンドの電子状態分析を説明する。

Research trends in soft X-ray absorption, electron, and soft X-ray emission spectroscopies using synchrotron radiation for chemical analysis are briefly explained. Measurements in the higher-energy region over 2 keV, liquid sample measurements, and MCD measurements have recently been achieved in the soft X-ray absorption spectroscopy. In electron spectroscopy, high-resolution measurements and bulk-sensitive measurements using higher-energy excitation have been achieved. In soft X-ray emission spectroscopy, higher-resolution X-ray spectrometers have been developed and liquid-sample measurements have also been achieved. In addition, chemical analysis of surface carbon films on Japanese smoked roof tiles and electronic structure analysis of boron-doped diamond are demonstrated as the successful analytical studies using soft X-ray spectroscopy.