米田 安宏 
; 鈴谷 賢太郎; 小原 真司*; 水木 純一郎
Yoneda, Yasuhiro; Suzuya, Kentaro; Kohara, Shinji*; Mizuki, Junichiro
CdTe-ZnTe半導体混晶はzinc-blendeタイプの構造を持つ物質として、初めて強誘電性が確認された。しかし、強誘電性領域においても構造が変化しないことから、強誘電性発現機構がいまだ明らかにはなっていない。われわれは実験室系のX線回折においてZn原子の温度因子が大きく変化することを見いだした。これは熱的揺動だけではなく、静的なdisorderが生じていると考えられる。そこで、disorderな構造を明らかにするために、高エネルギーX線回折とPDF解析を用いて改めてこのCdTe-ZnTe半導体混晶の構造解析を行った。その結果、平均構造位置からのdisorderはZn, Cdサイトだけではなく、むしろTeサイトで支配的に起こっていることがわかった。これらの原子のdisorderの結果、分極が生じ強誘電性を発現していると考えられる。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 339 |
号 |
: | |
ページ数 |
: | p.165 - 174 |
発行年月 |
: | 2006/09 |
発表会議名 |
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開催年月 |
: | 2005/09 |
開催都市 |
: | Foz do Iguazu |
開催国 |
: | Brazil |
キーワード |
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論文URL |
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使用施設 |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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InCites™ |
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パーセンタイル：6.64 分野：Materials Science, Multidisciplinary |
Altmetrics |
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