X線回折法による非破壊応力測定技術は、ひずみゲージなどの機械的計測法に代わる測定技術として、工業分野から研究開発分野に至るまで、さまざまな分野に応用されている。最近では、放射光から得られる高エネルギーX線や中性子線を用いた新しい応力測定技術が開発され、材料表面直下や材料深部など、実験室系では測定が困難であった領域・条件における残留応力評価が可能になっている。本解説では、これら特性X線,高エネルギーX線,中性子線による残留応力測定技術について、その基本原理と幾つかの応用例について解説した。
no abstracts in English
使用言語 |
: | Japanese |
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掲載資料名 |
: | |
巻 |
: | 46 |
号 |
: | 1 |
ページ数 |
: | p.11 - 18 |
発行年月 |
: | 2006/02 |
キーワード |
: | Residual Stress Measurement; X-ray Diffraction; Neutron Diffraction; Synchrotron Radiation; High Energy X-ray |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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- Accesses |
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Altmetrics |
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