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Correction of X-ray detection yield in micro-PIXE analysis according to sample thickness variation measured by STIM

PIXE分析のためのSTIMによる試料の厚さ測定

佐藤 隆博; 酒井 卓郎; 及川 将一*

Sato, Takahiro; Sakai, Takuro; Oikawa, Masakazu*

本研究の目的STIM分析によって得られた試料の厚さの情報をもとに、micro-PIXE分析における特性X線の発生量を補正することである。試料中で吸収されるX線の量を正確に見積もるためには試料の厚さを$$mu$$mの精度で正確に測定する必要があるが、それはmicro-PIXE分析のみでは困難である。そこで、われわれはSTIM分析を用い、またそのデータの解析のためのコンピュータシミュレーションコードを開発した。このコードの有用性を確認するために、テスト試料として、細胞のサイズと同じくらいのイオン交換樹脂を用いてSTIM分析とmicro-PIXE分析を行った。その結果、補正前のデータではX線の吸収による間違った分布が見られたが、われわれの解析コードで補正することで、ある程度補正することができた。

The purpose of this study is to correct yields of characteristic X-ray in micro-PIXE analysis by using STIM and computer simulation. To compensate the reduction of X-ray yields, thickness and internal constitution of a sample must be taken accurately with spatial resolution of a few microns. Therefore, we use STIM to investigate them. Furthermore, we developed a computer software code to correct the X-ray yields. To confirm validity of our method, ion exchange resins, which are similar to biological cells in size, were used as a test sample. There were some wrong distributions of sodium in micro-PIXE analysis of ion exchange resins. But, they could be corrected to some extent by using our code.

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パーセンタイル:47.55

分野:Instruments & Instrumentation

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