Kojima, Takuji; Sunaga, Hiromi; Takizawa, Haruki; Tachibana, Hiroyuki
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45MeV/amuのイオンビームのフルエンス測定について、これまでに総電荷量5nc/cm
以上では
2%の高い精度が得られている。これに基づき、ファラデーカップのサプレッション電圧の最適化や非照射時の暗電流評価を行い、これ以下の電流域についても2%以内の精度が得られることを明らかにした。また、4種のフィルム線量計のLET特性を低LET放射線の場合に規格化して整理することにより、低LET放射線で得られる校正曲線への補正係数を4%以内で与えた。これにより、これまで着色量等の分布でしかなかった情報を線量分布として表すことが可能となった。このため、積層フィルム中の深度線量分布測定などの応用を進めている。
no abstracts in English
使用言語 |
: | English |
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掲載資料名 |
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巻 |
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号 |
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ページ数 |
: | p.100 - 102 |
発行年月 |
: | 1999/10 |
キーワード |
: | Ion Beams; Dosimetry; Thin Film Dosimeters; Fluence; Faraday Cup; Uncertainty; Linear Energy Transfer (LET); Dose Mapping |
論文URL |
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論文解説記事 |
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Access |
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