Phenix-P2の照射後試験,2; ラッピングワイヤ,ラッパ管,パッド材の試験

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両角 勝文*; 伊藤 正彦*; 樫原 英千世*; 小野瀬 庄二* ; 大原 清海*; 小形 佳昭

not registered; not registered; not registered; not registered; not registered; Ogata, Yoshiaki

フランスの高速原型炉フェニックス炉にて、395620の温度範囲で、最大1.31023n/cm2(E0.1MeV)まで照射された「もんじゅ」用ラッピングワイヤ試作材、49年度試作のラッパ管及びパッド材について、外観検査,寸法測定,密度測定,引張試験,金相試験等を実施した。得られた主な結果をまとめると以下の通りである。(1)容体化処理ラッピングワイヤのスエリングは、照射量1.31023n/cm2(E0.1MeV)で12.7%であり、定常スエリング期にはいっている。また、20%の冷間加工を施されたラッピングワイヤのスエリングは3.4%で、冷間加工はスエリングを抑制することが明らかとなった。(2)ラッパ管材のスエリングは、9.31022n/cm2(E0.1MeV)の照射量にても観られず、スエリングの潜伏期にある。引張強度は照射温度が500では、未照射材の強度とほぼ同じであるが、照射温度が600では未照射材に比べて低下する。(3)クロムカーバイドLC―1C,インコネル718及びステライトN-6パッド部表面硬化材は、照射によっても母材よりも剥離せず健全な状態を保っていたが、コルモノイN-6は母材より剥離していた。

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