Measurement of 30Si as a tracer by neutron-induced prompt -ray analysis

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Yoshikawa, Hideki; Ishikawa, Hirohisa; not registered

近年、放射化分析の中でも原子炉より中性子ビームを導出し、直接サンプルに照射しながら、発生する即発線を分析に用いる中性子誘起即発線分析法が注目されている。本報告は、地層中でのガラス固化体骨格元素であるSiの挙動を把握する目的で、安定同位体の30Siトレーサー分析法を開発したので報告する。

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使用言語	:	English
掲載資料名	:	9th Interanational Conference of Modern Frends in
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ページ数	:	0 Pages
発行年月	:	1995/00
発表会議名	:	9th Interanational Conference of Modern Frends in
開催年月	:	1995/09
開催都市	:	Korea
開催国	:	Seoul
キーワード	:	no keyword

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登録番号 : 08-1995-0022
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