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The Development of A Subcriticality MersurementSystem Using the 252Cf-source-Driven Neutron Noise Analysis Method

None

清野 英昭; E.D.Blakem*; 松本 忠邦*

not registered; E.D.Blakem*; not registered

252Cf中性子源を利用した中性子雑音解析手法を原理とする未臨界度測定装置(Subcriticality Mersurement System:SMS)を開発した。このSMSの性能を確認するために,米国オークリッチ国立研究所との共同により,Criti-cal MassLabaratory 内のAnmular 及びSlab系を用いた未臨界度実験をおこなった。未臨界度としてK=0.98$$sim$$0.70の範囲の測定に所定の結果を得た。

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