ヘリウム線強度比を用いた電子温度密度計測法と静電プローブ法との比較

Comparison of He I line intensity ratio method and electrostatic probe for electron density and temperature measurements

梶田 信*; 大野 哲靖*; 岡本 征晃*; 仲野 友英; 高村 秀一*

Kajita, Shin*; Ono, Noriyasu*; Okamoto, Masaaki*; Nakano, Tomohide; Takamura, Shuichi*

静電プローブを用いたプラズマ計測では、特に低温プラズマで電流-電圧特性に異常がみられ、電子温度・密度の評価が難しくなる場合がある。一方、電子温度・密度は分光計測(中性ヘリウムの発光線の強度比を用いる)からも評価することができる。この2つの計測法で得られた電子温度・密度を比較するため、名古屋大学のダイバータシミュレータNAGDIS-IIでヘリウムプラズマを用いて実験を行った。その結果、電子温度・密度ともに分光計測から得られた値の方がわずかに大きかった。この理由を放射輸送などの効果を取り入れた解析コードにより議論する。

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