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非共鳴X線散乱によるUCu$$_{2}$$Si$$_{2}$$のSDW/CDW状態の観測

The Observation of SDW/CDW state in UCu$$_{2}$$Si$$_{2}$$ using non-resonant X-ray scattering

大隅 寛幸*; 本多 史憲; 目時 直人   ; 筒井 智嗣*; 石井 賢司; 松田 達磨; 芳賀 芳範   ; 大貫 惇睦*

Osumi, Hiroyuki*; Honda, Fuminori; Metoki, Naoto; Tsutsui, Satoshi*; Ishii, Kenji; Matsuda, Tatsuma; Haga, Yoshinori; Onuki, Yoshichika*

中性子散乱実験によってUCu$$_{2}$$Si$$_{2}$$が長周期スピン密度波(SDW)状態を示すことが明らかになった。SDWは+スピンと-スピンをもつ電子密度の変調であり、電荷密度波(CDW)を伴うと考えられる。そこで、BL46XU/SPring-8においてX線回折実験を行い、101Kでブラッグ反射のまわりに電荷密度波を反映した反射を確認した。UCu$$_{2}$$Si$$_{2}$$におけるSDW/CDW状態について報告する。

no abstracts in English

発表言語

 :

Japanese

掲載資料名

 :

巻

 :

号

 :

ページ数

 :

発行年月

 :

発表会議名

 :

日本物理学会第61回年次大会

開催年月

 :

2006/03

開催都市

 :

松山

開催国

 :

日本

キーワード

 :

no keyword

特許データ

 :

PDF

 :


論文URL

 :

研究データの公開先DOI

 :

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使用施設

 :

SPring-8(大型放射光施設)

広報プレスリリース

 :

論文解説
(JAEA R&D Navigator)

 :

受委託・共同研究相手機関

 :

高輝度光科学研究センター

Access

 :

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