大型CIC超電導導体の素線軌跡の解析

Analysis of all strand locations in a large superconducting CIC conductor

佐藤 秀成*; 谷貝 剛*; 津田 理*; 濱島 高太郎*; 布谷 嘉彦; 奥野 清

Sato, Hidenori*; Yagai, Tsuyoshi*; Tsuda, Makoto*; Hamajima, Takataro*; Nunoya, Yoshihiko; Okuno, Kiyoshi

大型CIC導体では、撚り線導体をコンジットに収納する際の圧縮により、撚り乱れが発生する。この撚り乱れにより、長尺導体では長時定数成分を持った交流損失増大の例が観測された。交流損失の増大は、撚り乱れによって素線間の接触長さが長くなり、素線間接触抵抗が減少することにより発生すると考えられる。素線間の接触状況を調べるには、導体長手方向の素線軌跡に関する詳細な情報が必要となる。本研究ではCIC導体内の素線の軌跡を推定するために、製作工程を考慮した解析方法を開発した。本解析方法の妥当性を調べるために測定した素線軌跡との比較検討した。その結果、およそ12mmの誤差範囲で測定と一致し、十分な精度で素線の軌跡を推測できることが可能となった。

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